工业智能产品

围绕工业检测、缺陷识别、远程代操与视觉流程搭建，构建可复制的工业智能产品体系

ADC 自动缺陷分类

基于深度学习的高精度瑕疵识别系统，实现毫秒级响应与99.9%的识别准确率。

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SPCC 智能远程控制

超低延迟的远程代操平台，结合数字孪生技术，实现异地高精密工业操控。

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AOI OS 低代码平台

图形化拖拽式流程搭建工具，大幅降低工业视觉算法的部署门槛与开发周期。

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ADC 自动缺陷分类系统

ADC（Automatic Defect Classification）系统是一种自动缺陷分类系统，广泛应用于半导体晶圆、消费电子、汽车等制造行业中。具有自主学习特性的 ADC 系统，能够对接工厂各制程检测设备，实时监控设备检出图片，增强现有检测设备的检测能力，提供更加精确的 Defect 分类功能。

核心能力

准确

AI 算法与规则融合，缺陷精准识别与稳定分类

全面

覆盖全制程 array、CF、CELL，支持多产品类型

灵活

软硬解耦，不绑定硬件设备，方案选择灵活

客户价值

5 %
良率提升
99.9 %
高准确率
60 %
未知缺陷拦截率
0.1 %
漏检率
ADC System Interface
SPCC Remote Operation

SPCC 智能远程控制系统

SPCC（Smart Process Control Center），智能远程控制系统，通过 AI 学习资深操作员的操作指令、判断逻辑与机台画面信息,以系统化方式替代传统人工代操与 PCC维护模式,帮助客户将关键操作任务转化为可远程执行、可标准复制、可全程追溯的智能作业。

核心能力

PCC远程监控

远程监控机台设备作业，提高设备管理与生产效率

RPA自动代操

替代重复性、低价值的固定性流程化操作，有效提升生产效率

AI算法核心

通过算法优化，抽象样本关键特征提升推理速度，降低硬件依赖

客户价值

95 %
代操率
99.9 %
准确率
95 %
修复成功率

AOI OS 低代码平台

AOI OS 通过图形化拖拽与模块化编程,把检测流程的搭建能力直接交到一线工程师手中——最懂产线的人,也能最快搭出应用。由此,企业得以从「开发级迭代」跃迁到「业务级迭代」,逐步沉淀属于自己的视觉检测算法资产库。

图像采集

采集 · 拼接 · 融合 · 裁剪 · 对齐 · 连续采图

预处理

滤波 · 形态学 · 畸变矫正 · 直方均衡

缺陷检测

点/线/Mura 缺陷Blob · 边缘检测

定位

模板匹配 · 轮廓匹配 · 特征点 · 几何拟合

测量

线圆 · 点线 · 亮度 · 直线与圆拟合

识别

条码 · 二维码 · OCR · 颜色 · 姿态识别

AI 推理

分类 · 目标检测 · 实例分割 · 异常检测